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å¼€å‘ä¸é‡‡ç”¨ä»¿çœŸå™¨æ–¹å¼å¯¹ARM¾pÈ»Ÿçš„进行调试,通过ARM处ç†å™¨çš„JTAG边界扫æå£è¿›è¡Œè°ƒè¯•ï¼Œ˜q™ç§æ–¹å¼ç”±å®¿ä¸ÀLœºã€ç›®æ ‡æœºå’Œä»¿çœŸå™¨¾l„æˆã€?
宿主机就是调试用的PCæœºï¼Œç›®æ ‡æ¿å°±æ˜¯åµŒå…¥å¼‹È€å…‰æ‰“æ ‡æœºæŽ§åˆ¶å™¨çš„æ ¸å¿ƒæ¿ï¼Œä½¿ç”¨çš„仿真器是用于ARM9的专用仿真器ã€?
JTAG调试是ARM¾pÈ»Ÿè°ƒè¯•æ—¶ä‹É用最多的调试æ–ÒŽ(gu¨©)³•åQŒJTAG是一¿Uå¸¸ç”¨çš„å›½é™…æ ‡å‡†‹¹‹è¯•åè®®åQŒä¸»è¦ç”¨é€”有:芯片的内部测试,通过‹¹‹è¯•å…¶ç”µ(sh¨´)气特性判æ–芯片是å¦æœ‰é—®é¢˜;对芯片åŠ(qi¨¢ng)其外设进行系¾lŸä»¿çœŸä¸Žè°ƒè¯•ã€‚å«æœ‰JTAG调试接å£æ¨¡å—的芯片åªè¦æ—¶é’Ÿæ£å¸¸ï¼Œž®±å¯ä»¥åˆ©ç”¨å…¶JTAG接å£æ¥è®¿é—®èŠ¯ç‰‡å†…部的寄å˜å™¨ã€?